仪器特点

 1 仪器结构设计合理,电子系统采用标准机笼,高集成化电路设计。

2、 分析速度快、重复性好、稳定性好。

3、 采用高稳定的激发光源,激发频率在150—500Hz之间变化,可达到的分析效果。

4、 采用高集成化的采集和控制系统,自动化程度高。

5、 测控系统采用单板机测量与控制,与上位计算机进行数据交换,提高了运行速度。

6、 通过计算机软件来调整每个通道的光电倍增管负高压,通道负高压分8档调整,从而大大地提高通道的      利用率和分析谱线的线性范围在分析不同材质中的采用,减少了通道的采用数量,降低了成本。

7、可用于多种基体分析:Fe、Co、Cu、Ni、Al、Pb、Mg、Zn、Sn等。

8、采用纯中文Windows系统下的操作软件,操作简单易懂。

9、计算机软件建有数据库系统,方便了测量数据的查询与打印,也可通过网络远程传输数据,方便快捷。

10、各项系统独立供电,组成单元,使用方便,维护简单。

11、采用光学部分恒温措施,保证了仪器的正常运行,从而降低了对环境的要求。

12、采用高精度直线电机进行入缝扫描,速度快。

13、采用整体出射狭缝,方面增加通道。

技术指标

激发光源:

供电电压:50Hz、220V±1%

输入功率:1.0KVA

充电电容:预燃6μF, 曝光1.5μF

峰值电流:预燃120A, 曝光30A

主回路峰压:300VDC(采用自动调整峰压)

引燃电路:脉冲幅度:+15KV
          辅助间隙:采用隧道二极管

        放电频率:400 Hz /200 Hz(可选择150Hz--500Hz)

样品台分析间隙:4mm

分光仪:

分析波段范围:160~450nm

机刻凹面光栅:曲率半径1000mm

光电倍增管:日本进口
刻划密度:1667线/mm
刻划面积:30×50mm2
闪耀波长(一级):300nm
线色散:0.55nm/mm
入射狭缝宽度:20μm

出射狭缝宽度:50μm、75μm

允许***多通道:31个(可扩张到64个通道)

分光仪局部恒温:35℃±0.5℃

测控系统:

测控系统:采用单板机测量和控制,与上位计算机进行数据交换

测量方式:分段积分

积分电容容量:0.047μF

重现性:RSD≤0.2%

光电倍增管高压电源:
电压:-1000V
稳定度:8小时优于0.5%

高压调节:从-550V到-1000V变化,分8(0-7)档调整

高压设置:用户通过计算机软件改变

外形尺寸:

主机:1120*750*920mm

重量:约266000g